Описаны новые подходы к измерению параметров окружающей среды и технических устройств в системах мониторинга, основанные на использовании возможностей оптоволоконных систем при различных методах обработки оптического сигнала. Показано, что использование таких систем позволит существенно упростить измерительный процесс, а также получить новые возможности измерения и анализа физических величин.